XRF鍍層測(cè)厚儀主要用于測(cè)量金屬材料的涂層厚度。但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引入了大量的測(cè)量誤差，為了保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，有必要進(jìn)行不確定性分析。
 

　　XRF鍍層測(cè)厚儀可同時(shí)測(cè)量磁性基材表面的非磁性涂層(如鋼鐵)(如油漆、陶瓷、鉻等)和非磁性金屬基材表面的非導(dǎo)電涂層(如油漆等)。
 

　　儀器內(nèi)置高精度集成探頭，可通過(guò)電磁感應(yīng)和渦流效應(yīng)自動(dòng)檢測(cè)襯底性能和鍍層厚度，并可通過(guò)晶格液晶快速顯示結(jié)果。
 

　　同時(shí)，測(cè)量數(shù)據(jù)可以成組保存，統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)可以實(shí)時(shí)顯示。用戶可為每組設(shè)置上、下報(bào)警值、零位校準(zhǔn)和多點(diǎn)校準(zhǔn)。全新多點(diǎn)校準(zhǔn)和零點(diǎn)校準(zhǔn)，使您隨時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)非常方便。標(biāo)準(zhǔn)化菜單，確保您可以輕松使用它們。
 

　　塑料工業(yè)電鍍、電子材料、電鍍(連接器、半導(dǎo)體、電路板、電容器等)，鋼鐵材料涂層(鐵、鑄鐵、不銹鋼、合金、低表面處理鋼板，等等)和有色金屬材料涂層(銅合金、鋁合金、鉛合金、鋅合金、鎂合金、鈦合金、貴金屬等)和各種其他涂層厚度測(cè)量和成分分析。
 

　　EXF鍍層測(cè)厚儀是一種非接觸式無(wú)損檢測(cè)方法，但該裝置復(fù)雜、成本高、測(cè)量范圍小。由于有放射源，用戶必須遵守輻射防護(hù)規(guī)定。X射線法可測(cè)量極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。射線法適用于涂層和基體原子序數(shù)大于3的涂層測(cè)量。電容法僅用于測(cè)量薄導(dǎo)電體上絕緣涂層的厚度。
 

　　XRF鍍層測(cè)厚儀測(cè)量磁性金屬基體條件(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼、等)的磁性涂層厚度(如鋁、鉻、銅、搪瓷、等)、橡膠、油漆和非磁性金屬基質(zhì)(如銅、鋁、鋅、錫等)在導(dǎo)電涂層厚度(如：搪瓷、塑料、橡膠、油漆、等)。
 

　　涂層測(cè)厚儀具有測(cè)量誤差小、可靠性高、穩(wěn)定性好、操作方便等特點(diǎn)。EXF鍍層測(cè)厚儀主要用于測(cè)量金屬材料的涂層厚度。
 

　　但是，由于測(cè)量對(duì)象、測(cè)量方法、測(cè)量環(huán)境、儀器設(shè)備等因素引入了大量的測(cè)量誤差，為了保證測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性，有必要進(jìn)行不確定性分析。
 

　　XRF鍍層測(cè)厚儀中原子的性質(zhì)是由原子序數(shù)決定的，即軌道中質(zhì)子數(shù)或電子數(shù)，具體x射線能量與原子序數(shù)的關(guān)系如圖所示。
 

　　K輻射的能量遠(yuǎn)高于L輻射的能量。涂層厚度的測(cè)量方法主要有楔切法、光學(xué)截?cái)喾ā㈦娊夥ā⒑穸炔顪y(cè)量法、稱重法、x射線熒光法、射線背散射法、電容法、磁性測(cè)量法和渦流測(cè)量法。前五種方法都是有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣、速度慢，更適合抽樣檢查。
 

　　XRF鍍層測(cè)厚儀采用X熒光分析技術(shù)，可測(cè)量各種金屬涂層的厚度，包括單層、雙層、多層、合金涂層等。EXF涂層測(cè)厚儀是一種能譜分析方法，屬于物理分析方法。
 

　　當(dāng)樣品受到X射線照射時(shí)，樣品中所含涂層或基體材料元素的原子受到激發(fā)后會(huì)發(fā)射出自己*的X射線。不同的元素有不同的X射線特性。當(dāng)探測(cè)器探測(cè)到這些特征x射線時(shí)，它會(huì)把它們的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成模擬電信號(hào)。模擬電信號(hào)經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換器轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號(hào)，送入計(jì)算機(jī)進(jìn)行處理。根據(jù)計(jì)算機(jī)專用應(yīng)用軟件獲得的譜峰信息，通過(guò)數(shù)據(jù)處理確定鍍層樣品中各元素的類型和各元素的厚度。